原子力顯微鏡可以檢測金屬。AFM原子力顯微鏡是一種基于針尖與樣品之間原子作用力的探測技術(shù)，不要求樣品具有導(dǎo)電性，因而可以用于研究金屬、半導(dǎo)體、絕緣體等多種材料，大大彌補(bǔ)了掃描隧道顯微鏡（Scanning Tunneling Microscope，STM）無法研究非導(dǎo)電材料的局限。
原子力顯微鏡的原理是利用針尖與樣品表面原子間的微弱作用力來作為反饋信號，維持針尖與樣品間作用力恒定，同時針尖在樣品表面掃描，從而得知樣品表面的高低起伏。它可適用于各種物品，如金屬材料、高分子聚合物、生物細(xì)胞等，并可操作在大氣、真空、電性及液相等環(huán)境，進(jìn)行不同物性分析。AFM原子力顯微鏡*大的特點(diǎn)是其在空氣中或液體環(huán)境中都可以操作，因此在生物材料、晶體生長、作用力的研究等方面有廣泛的應(yīng)用。
此外，原子力顯微鏡具有高分辨地測試樣品表面微區(qū)（納米及亞微米尺度）三維形貌的能力，還可以準(zhǔn)確地對樣品表面物理化學(xué)特性進(jìn)行研究，如測試多種材料表面組分區(qū)別、溫度、表面電勢、磁場力、靜電力、摩擦力、電流、電容等。
需要注意的是，由于AFM原子力顯微鏡是納米級別的表征手段，一般要求樣品表面平整，若樣品表面起伏較大，可能探測不到部分樣品表面從而無法得到真實(shí)的形貌。因此，在制備樣品時，如塊狀和薄膜樣品，一般用膠粘在樣品臺或基底上，并注意塊體樣品需上下表面平行，金屬、陶瓷等塊體樣品的待測面需拋光。
綜上所述，原子力顯微鏡不僅可以檢測金屬，而且在金屬材料的納米級表征和物理化學(xué)特性研究方面具有獨(dú)特的優(yōu)勢。