納米復(fù)合材料進(jìn)行科學(xué)的發(fā)展和納米制備方法技術(shù)的進(jìn)步，將需要不斷更新的測試數(shù)據(jù)技術(shù)和表征手段，以評價研究納米粒子的粒徑、形貌、分散和團(tuán)聚狀況。原子力顯微鏡是以一個掃描隧道顯微鏡基本工作原理以及發(fā)展結(jié)合起來的掃描探針顯微鏡。原子力顯微鏡AFM的出現(xiàn)為納米科技的發(fā)展起到了推動作用。
通過控制軟件可以安全、方便地跟蹤懸臂梁在曲面上的精確位置。在x-y和z-方向解耦的掃描儀架構(gòu)中，x-y方向掃描儀位于樣本下方，而z方向掃描儀位于儀器的測量頭中。各個操作級別的高度自動化，結(jié)合以工作流為導(dǎo)向的 tosca 控制軟件，可確保在相對較短的時間內(nèi)實現(xiàn)結(jié)果。這使得托斯卡能夠?qū)氋F的時間集中在研究任務(wù)上。只需一步，就可以輕松地將多個樣品裝載到儀器外部的樣品承載臺上。
使用時如何來保護(hù)原子力顯微鏡的探針？
探頭價格昂貴，當(dāng)可能損壞探頭時，應(yīng)緩慢小心地操作探頭。在這個過程中，始終觀察，以避免帶來的樣品太接近探針和粉碎探針。使用原子力顯微鏡AFM后，旋轉(zhuǎn)薄的調(diào)節(jié)旋鈕逆時針方向，然后旋轉(zhuǎn)粗糙的調(diào)節(jié)旋鈕逆時針方向取出樣品，以免探針損壞。