目前，原子力顯微鏡不僅能得到材料表面的三維形貌、表面粗糙度和高度，而且還能得到摩擦、阻抗分布、電位分布、介電常數(shù)、壓電特性、磁性等物理性質(zhì)分布的差別。
高分子科學領(lǐng)域中，afm原子力顯微鏡能得到材料表面的形貌和物理性能。熱試樣可用于研究聚合物的相變過程，與環(huán)境腔結(jié)合可研究有機溶劑氣氛中聚合物表面結(jié)構(gòu)的演化，有助于解釋其破壞機理。
該技術(shù)可用于半導體行業(yè)中基板表面拋光缺陷、圖形結(jié)構(gòu)、薄膜表面形貌及定量表面粗糙度數(shù)據(jù)及深度信息的檢測。能同時檢測表面缺陷(如電流漏出、結(jié)構(gòu)缺陷、晶格錯位、缺陷密度和擴散)、表面阻抗、電勢分布、介電常數(shù)、摻量等，對半導體材料的可靠性、均勻性和失效性分析有利。
利用原子力顯微鏡技術(shù)研究電沉積過程，揭示其作用機理，研究金屬腐蝕過程，有助于解決金屬腐蝕機理，并能幫助解決金屬腐蝕機理；與手套箱相結(jié)合，可對鋰電池充放電過程進行研究，有助于提高電池效率。
afm原子力顯微鏡在生命科學領(lǐng)域中，它不僅能檢測溶液中DNA、蛋白質(zhì)、細胞的精細結(jié)構(gòu)，而且還能測量它們的機電性能，獲取生物樣品的楊氏模量和阻抗特性。通過聯(lián)合使用科技**的分子識別技術(shù)，可以幫助研究者快速確定分子水平的相互作用。
當針尖和試樣發(fā)生作用時，原子力顯微鏡系統(tǒng)的懸臂將發(fā)生搖擺。在激光照射到微懸臂端部后，由于懸臂的擺動，其反射光的位置也隨之改變，造成了其偏移。通過激光點位置檢測器，將偏移量轉(zhuǎn)化成電信號，使SPM控制器對其進行處理。
以上內(nèi)容就是對afm原子力顯微鏡常見領(lǐng)域的應用介紹，想要了解更多關(guān)于顯微鏡產(chǎn)品的情況可以關(guān)注我們，也可以直接撥打網(wǎng)站上面的電話哦。