原子力顯微鏡可以說是研究納米尺度樣品的通用，強大的顯微鏡技術(shù)。afm原子力顯微鏡的多功能性主要體現(xiàn)在它不僅可以在三維形貌中成像，還可以滿足科學家和工程師的需求，提供各種類型的表面測量。AFM原子力顯微鏡能夠以原子級分辨率生成具有埃量級高精度信息的圖像。
那么，原子力顯微鏡的工作原理是怎樣的呢？
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AFM原子力顯微鏡運用懸臂末端銳利的針尖來掃描樣品表面。當探針接近樣品表面時，樣品與針尖之間的短程吸引力吸引針尖向表面移動。然而，當表面和針尖直接接觸時，排斥力將會增大并占主導作用使懸臂向上彎曲。
檢測方法：
激光束被用于檢測懸臂是靠近還是遠離表面。入射光束被懸臂平頂上表面反射到位敏光電二極管（PSPD）中，用來檢測懸臂彎曲所導致的反射光束位置的輕微改變。當針尖通過凸起的表面形態(tài)形貌時，懸臂的彎曲和相應的反射激光束的變化都會被PSPD記錄下來。
成像：
原子力顯微鏡通過運用懸臂對特定區(qū)域的掃描來完成樣品表面形貌成像。位敏光電二極管檢測樣品表面高低起伏的形貌所導致的懸臂彎曲，并通過反饋回路控制針尖在表面的高度來穩(wěn)定激光位置，可以形成一幅精確的表面形貌像。