以前的原子力顯微鏡的輕敲模式都要調(diào)比例增益（proportional gain, PG）和積分增益（integral gain, IG），而且具體數(shù)值與樣品有關(guān)，沒有有效的自動(dòng)化方案。
一般的調(diào)節(jié)方法是，先調(diào)IG，IG小時(shí)針調(diào)整的慢，大時(shí)針調(diào)整的快，更容易符合樣品表面，但太大時(shí)會(huì)產(chǎn)生自激振蕩，不能反映樣品形貌。
所以調(diào)IG時(shí)需要大概知道你的樣品表面形貌如何，比如找一個(gè)平坦的地方，逐漸增加IG，至看到正掃和回掃不重合的振蕩。
然后在逐漸減小IG，至振蕩基本消失，正掃和回掃基本重合，這時(shí)應(yīng)基本能反映樣品的表面形貌。
然后再調(diào)PG，PG一般為IG的 150%到250%，原則是讓正掃和回掃更加重合，曲線更“漂亮”。
正因?yàn)镻G 和IG調(diào)起來比較麻煩需要經(jīng)驗(yàn)，新的afm原子力顯微鏡型號(hào)（比如Bruker Dimension Icon）出了個(gè)叫ScanAsyst的新模式，不再讓針尖顫著掃樣品了，基本不需要調(diào)參數(shù)就可以掃出還挺好的圖像，速度還可以比以往的輕敲模式快。