原子力顯微鏡是一種高分辨率表面形貌和物理性質測量技術，能夠直接觀測納米級別的表面形態(tài)、粗糙度、力學性質等。在進行AFM原子力顯微鏡測試前，需要對樣品進行制備，以保證測試的準確性和有效性。
一、樣品制備要求：
樣品表面應該是干凈、平整和均勻的。任何污染物或不均勻的表面會影響原子力顯微鏡測試的精確性和準確性。
樣品必須保持在干燥的環(huán)境中。如果樣品表面有水分或其他液體殘留物，則可能會導致測試結果不準確，因為液體可能會在掃描過程中干擾樣品表面的結構。
樣品尺寸應該足夠小，以確保在測試過程中樣品表面的任何變化都可以被檢測到。如果樣品過大，則可能會導致一些細節(jié)被忽略或掩蓋。
二、選擇合適的樣品：
樣品應該具有相應的硬度和強度。如果樣品太軟或太脆，則在測試過程中可能會發(fā)生形變或破裂，從而導致測試結果不準確。
樣品表面應該具有一定的反射性和導電性。這可以確保樣品表面的形態(tài)和結構可以準確地被探測到。
樣品的形態(tài)和結構應該與所需測試的目的相匹配。例如，如果要測試材料的表面粗糙度，則需要選擇具有所需粗糙度的樣品。
三、其他注意事項：
在測試之前，應該進行預熱和冷卻等樣品處理，以確保樣品處于穩(wěn)定狀態(tài)。
在測試之前，應該對掃描參數(shù)進行仔細調(diào)整和測試，以確保掃描的準確性和精確性。
在測試過程中，應該避免任何外力干擾，以確保測試結果的準確性和可靠性。
綜上所述，樣品的準備和選擇對AFM原子力顯微鏡測試的精確性和準確性至關重要。只有在選擇了合適的樣品并進行了正確的樣品處理后，才能獲得準確、可靠的原子力顯微鏡測試結果。