1、1986年頭臺(tái)原子力顯微鏡誕生，彌補(bǔ)了掃描隧道顯微鏡不能觀測(cè)非導(dǎo)電樣品的缺陷。
2、AFM原子力顯微鏡基本原理：原子力顯微鏡是將一個(gè)隊(duì)微弱力很敏感的微懸臂一端固定，另一端有一個(gè)微小的針尖，其尖DUAN原子與樣品表面原子間存在及很微弱的排斥力，利用光學(xué)檢測(cè)法或隧道電流檢測(cè)法，通過測(cè)量針尖與樣品表面原子間的作用力獲得樣品表面形貌的三維信息。
3、AFM原子力顯微鏡成像模式：接觸式、非接觸式和共振模式。
4、原子力顯微鏡在高分子材料中的常見用途：
（1）觀察膜表面的形貌和相分離，研究高聚物表面性能：比如表征材料表面粗糙度，研究共混物相分離”海島“結(jié)構(gòu)，測(cè)量材料表面的納米摩擦力。
（2）分析高聚物結(jié)晶形態(tài)，研究水膠乳成膜過程。
（3）研究單鏈高分子結(jié)構(gòu)，表征高分子鏈構(gòu)象，研究高分子單鏈性能。
（4）研究高聚物與納米顆粒的相互作用。
參考文獻(xiàn)：《高分子物理近代研究方法》，張俐娜，薛奇等編著。