AFM原子力顯微鏡的測(cè)試范圍廣泛，包括表面觀察、尺寸測(cè)定、表面粗糙測(cè)定、顆粒度解析、突起與凹坑的統(tǒng)計(jì)處理、成膜條件評(píng)價(jià)、保護(hù)層的尺寸臺(tái)階測(cè)定、層間絕緣膜的平整度評(píng)價(jià)、VCD涂層評(píng)價(jià)、定向薄膜的摩擦處理過程的評(píng)價(jià)、缺陷分析等。其納米級(jí)的分辨能力使其成為研究納米科技和材料分析的重要工具。
具體而言，原子力顯微鏡可以通過不同的測(cè)量模式來分析材料的其他特性，如樣品的靜電力、磁力或者彈力。在材料分析中，它可以檢測(cè)纖維、粉末、溶液、薄膜、納米片、生物蛋白等樣品，進(jìn)行粗糙度、表面形貌、厚度、相圖、彈性模量等測(cè)量。此外，原子力顯微鏡還可以進(jìn)行多種模式的成像，如摩擦力圖像、定量相位圖像等，并可以對(duì)表面局域電場(chǎng)力、磁場(chǎng)力、表面電勢(shì)以及導(dǎo)電性、電場(chǎng)力及磁場(chǎng)力圖像進(jìn)行測(cè)量。
測(cè)試時(shí)，原子力顯微鏡通過探測(cè)微細(xì)針尖和樣品原子團(tuán)之間相互作用力的變化來檢測(cè)樣品表面的高低起伏。其主要特點(diǎn)包括具有接觸模式、輕敲模式、相位成像模式、抬起模式、暗抬高模式等多種掃描方式，以及表面形貌掃描、靜電力顯微鏡、導(dǎo)電原子力顯微鏡、磁力顯微鏡、橫向力/摩擦力顯微鏡、力曲線、納米壓印等多種功能模塊。
請(qǐng)注意，具體的測(cè)試范圍可能會(huì)因設(shè)備型號(hào)、生產(chǎn)廠家以及技術(shù)規(guī)格的不同而有所差異。因此，在選擇和使用原子力顯微鏡時(shí)，建議參考設(shè)備的技術(shù)手冊(cè)和廠家提供的信息，以確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。