原子力顯微鏡的制樣要求主要確保樣品能夠準確、有效地進行原子級別的觀測和分析。以下是一些關鍵的制樣要求：
樣品表面應干凈、平整和均勻。任何污染物或不均勻的表面都可能影響AFM原子力顯微鏡測試的精確性和準確性。這可以通過氮氣吹掃或酒精丙酮等試劑清洗來實現(xiàn)。
樣品B須保持在干燥的環(huán)境中。如果樣品表面有水分或其他液體殘留物，可能會導致測試結果不準確，因為液體可能會在掃描過程中干擾樣品表面的結構。
樣品尺寸應足夠小，以確保在測試過程中樣品表面的任何變化都可以被檢測到。通常，樣品大小一般不超過1厘米，高度也應控制在1厘米以內。如果樣品過大，可能會導致一些細節(jié)被忽略或掩蓋。
對于不同類型的樣品，需要采取不同的制備策略。例如，塊體樣品和薄膜樣品在清潔后可以直接固定在樣品臺上進行測試；而生物樣品，如DNA分子和細胞等，可能需要特定的吸附固定方式，如加入二價陽離子以增強DNA和云母基底間的相互作用力，或者將細胞種在培養(yǎng)皿中進行液下成像。
對于有機物樣品，應具有足夠的疏水性，以保證平整的表面并防止吸附液污染樣品。
對于某些特殊樣品，如納米線、納米管等，可能需要進行特殊處理以保證成像質量。
在制樣過程中，還需要注意一些細節(jié)。例如，在液下成像時，Z簡單的方法是在樣品表面滴一滴液體，但液體高度不能高于保護套高度。如果要把樣品粘在大的基底上，需要注意所用的膠不能是水溶性的。
總的來說，原子力顯微鏡的制樣要求是為了確保樣品能夠在原子級別上進行準確、有效的觀測和分析。在制樣過程中，需要遵循這些要求，并根據具體的樣品類型采取相應的策略。