原子力顯微鏡的實驗報告要點介紹通常包括以下幾個方面：
一、引言
簡要介紹AFM原子力顯微鏡的背景和歷史。例如，原子力顯微鏡是在掃描隧道顯微鏡（STM）的基礎(chǔ)上發(fā)展而來，克服了STM只能觀察導(dǎo)體和半導(dǎo)體的限制，使得AFM原子力顯微鏡能夠觀測非導(dǎo)電樣品的表面結(jié)構(gòu)。
闡述AFM原子力顯微鏡的重要性和應(yīng)用領(lǐng)域。原子力顯微鏡在物理、化學(xué)、生物、微電子、微機(jī)械學(xué)、新型材料、醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。
二、實驗原理
詳細(xì)描述AFM原子力顯微鏡的工作原理。原子力顯微鏡利用探針與被測樣品之間微弱的相互作用力（原子力）來獲得物質(zhì)表面形貌的信息。當(dāng)探針在樣品表面掃描時，探針與樣品表面原子間的排斥力會使得微懸臂輕微變形，這種變形可以作為探針和樣品間排斥力的直接量度。
介紹AFM原子力顯微鏡的三種工作模式：接觸模式、非接觸模式和共振模式（輕敲模式）。特別關(guān)注實驗中所采用的輕敲模式，即樣品掃描時，針尖始終同樣品“接觸”，但距離在小于零點幾個納米的斥力區(qū)域。
三、實驗步驟
詳細(xì)描述實驗的具體步驟，包括樣品的準(zhǔn)備、原子力顯微鏡的操作和調(diào)試過程、數(shù)據(jù)采集等。
強(qiáng)調(diào)實驗中的關(guān)鍵點和注意事項，如探針的選擇、樣品的處理、掃描參數(shù)的設(shè)置等。
四、實驗結(jié)果與分析
展示實驗得到的原始數(shù)據(jù)圖像，并對其進(jìn)行詳細(xì)分析。
闡述AFM原子力顯微鏡在觀測樣品表面形貌方面的優(yōu)勢，如高分辨率、非破壞性、無需導(dǎo)電薄膜覆蓋等。
分析實驗中的可能誤差和局限性，并討論如何改進(jìn)實驗方法和提高實驗精度。
五、結(jié)論與展望
總結(jié)實驗的主要發(fā)現(xiàn)和結(jié)論，強(qiáng)調(diào)原子力顯微鏡在科學(xué)研究和技術(shù)開發(fā)中的重要地位。
展望AFM原子力顯微鏡未來的發(fā)展趨勢和應(yīng)用前景，提出可能的改進(jìn)方向和研究建議。
六、參考文獻(xiàn)
列出實驗報告中引用的所有文獻(xiàn)和參考資料，以便讀者查閱和驗證。
在撰寫實驗報告時，應(yīng)注意保持語言簡潔明了、邏輯清晰、數(shù)據(jù)準(zhǔn)確可靠。同時，可以適當(dāng)加入圖表和圖片來輔助說明實驗過程和結(jié)果。