新聞資訊

常用測量薄膜厚度的方法較多,可以分為光學(xué)方法和非光學(xué)方法。非光學(xué)方法包括臺階儀法、afm原子力顯微鏡劃痕法等。

通過下面介紹讀懂a(chǎn)fm原子力顯微鏡在電池/微觀形態(tài)/晶體結(jié)構(gòu)的應(yīng)用

原子力顯微鏡為掃描探針顯微鏡家族的一員，具有納米級的分辨能力，其操作容易簡便，是目前研究納米科技和材料分析的很重要的工具之一。

?原子力顯微鏡是一種可用來研究包括絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結(jié)構(gòu)的分析儀器，現(xiàn)已廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、納米功能材料、化工、生物研究和科研院所各種納···

afm原子力顯微鏡在生物膜相互作用實驗中的應(yīng)用

afm原子力顯微鏡應(yīng)用于傳統(tǒng)中藥飲片產(chǎn)地鑒定中質(zhì)地的定量化指標(biāo)介紹