原子力顯微鏡實(shí)際上就是通過(guò)原子之間的細(xì)微作用力來(lái)進(jìn)行基本成像。原子力顯微鏡AFM可以合理的把納米級(jí)探針適當(dāng)?shù)墓潭ㄔ趯?duì)于力比較敏感的、容易操控的彈···
原子力顯微鏡是什么和原子力顯微鏡研究時(shí)的一些基本術(shù)語(yǔ)解釋
原子力顯微鏡AFM是利用檢測(cè)樣品表面與細(xì)微的探針針尖之間的相互作用力（原子力）測(cè)出表面的形貌。探針尖尖在小的軔性的懸臂上，當(dāng)探針接觸到樣品表面時(shí)···
原子力顯微鏡的測(cè)量架構(gòu)的介紹
原子力顯微鏡的探針長(zhǎng)度只有幾微米長(zhǎng)，一般由懸臂梁和針尖組成，主要原理是將原子力介于針尖和試驗(yàn)樣品之間，使懸臂光束產(chǎn)生精細(xì)位移來(lái)測(cè)量表面結(jié)構(gòu)的···
原子力顯微鏡在組織工程領(lǐng)域發(fā)揮巨大作用
自1986年研制成功這種新型顯微鏡以來(lái)，原子力顯微鏡已在材料學(xué)、分子生物學(xué)、細(xì)胞生物學(xué)等領(lǐng)域獲得廣泛應(yīng)用。
原子力顯微鏡力硬件結(jié)構(gòu)之檢測(cè)部分和位置檢測(cè)部分的介紹
原子力顯微鏡AFM是由IBM公司的Binnig與史丹佛大學(xué)的Quate于1985年所發(fā)明的，其目的是為了使非導(dǎo)體物品也可以在顯微鏡下進(jìn)行觀測(cè)。
原子力顯微鏡AFM三種工作模式中接觸模式的介紹
原子力顯微鏡共有三種不同的工作模式，接觸模式，非接觸模式，以及共振模式或者輕敲模式。今天原子力顯微鏡廠家的小編主要為大家介紹下接觸模式。