使用原子力顯微鏡AFM的簡(jiǎn)單介紹

使用原子力顯微鏡AFM的簡(jiǎn)單介紹

原子力顯微鏡探測(cè)到的原子力由兩種主要成分組成:一種是吸引力即范德瓦耳斯力;另外一種是電子云重疊而引起的排斥相互作用。

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原子力顯微鏡的關(guān)鍵部位

原子力顯微鏡的關(guān)鍵部位

原子力顯微鏡是通過(guò)探針與被檢測(cè)樣品直接微弱的相互作用力來(lái)獲得物質(zhì)表面形貌的信息。

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AFM原子力顯微鏡在細(xì)胞生物學(xué)中的應(yīng)用

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AFM原子力顯微鏡在細(xì)胞生物學(xué)中的應(yīng)用

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原子力顯微鏡AFM應(yīng)用于納米壓痕的研究

原子力顯微鏡AFM應(yīng)用于納米壓痕的研究

原子力顯微鏡AFM應(yīng)用于納米壓痕的研究

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原子力顯微鏡應(yīng)用

原子力顯微鏡應(yīng)用

原子力顯微鏡它是以掃描隧道顯微鏡的基本原理發(fā)展起來(lái)的掃描探針顯微鏡。

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原子力顯微鏡探針的重要性?

原子力顯微鏡探針的重要性?

原子力顯微鏡是表征薄膜性質(zhì)的重要手段之一,它不僅是一臺(tái)顯微鏡,更是一個(gè)多功能的微納測(cè)量與操縱平臺(tái)。

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