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原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope，AFM）是一種用于研究包括絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結(jié)構(gòu)的分析儀器。它通過檢測樣品表面和微型力敏感元件之間···

原子力顯微鏡在工業(yè)方面有許多應(yīng)用，尤其是在材料科學(xué)、半導(dǎo)體和表面工程等領(lǐng)域。以下是其一些主要應(yīng)用：

原子力顯微鏡是一種用于研究表面形貌和表面物理特性的儀器。以下是AFM原子力顯微鏡的優(yōu)點(diǎn)：

原子力顯微鏡在物理學(xué)中也有著廣泛的應(yīng)用。以下是幾個具體應(yīng)用例子：

原子力顯微鏡是一種利用原子力探測樣品表面特征，然后形成圖像的顯微鏡。它具有高分辨率、高靈敏度和非接觸探測等特點(diǎn)，可以觀察到納米級別的材料和生···

原子力顯微鏡是一種用于研究表面形貌和物理特性的強(qiáng)大工具，具有以下優(yōu)點(diǎn)：