AFM原子力顯微鏡在薄膜技術(shù)中的應(yīng)用介紹
AFM原子力顯微鏡在材料領(lǐng)域的幾個應(yīng)用的介紹
原子力顯微鏡可能很多人都聽過，一種相對比較**的掃描探針顯微鏡，對于材料表面形貌和結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析測試的有效手段之一，利用AFM原子力顯微鏡可以直接···
AFM原子力顯微鏡在下面5個主要應(yīng)用領(lǐng)域的介紹
在材料科學(xué)領(lǐng)域，原子力顯微鏡不但可以獲得材料表面的3D形貌、表面粗糙度和高度等信息，而且可以獲得材料表面物理性質(zhì)分布的差異，例如摩擦力、阻抗分···
AFM原子力顯微鏡在檢驗檢疫工作中有哪些具體的應(yīng)用呢
納米科技是 20 世紀(jì)末發(fā)展起來的一門新興、交叉學(xué)科，而在納米科技中，納米檢測手段和工具是必不可少的。1986 年，原子力顯微鏡誕生，便迅速成為了納米···
你知道AFM原子力顯微鏡和SEM掃描電子顯微鏡相比有哪些優(yōu)缺點嗎？
反饋控制是原子力顯微鏡系統(tǒng)的核心工作機(jī)制，在工作過程中，通過探針，可以得到探針與樣品相互作用的強(qiáng)度，從而電壓受到改變，該電壓是加在樣品掃描器···