原理：原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope，AFM）。是一種可用來(lái)研究包括絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結(jié)構(gòu)的分析儀器。它通過(guò)檢測(cè)待測(cè)樣品表面和一個(gè)···
你知道使用AFM原子力顯微鏡要按照哪些流程來(lái)嗎？
原子力顯微鏡利用微懸臂感受和放大懸臂上尖細(xì)探針與受測(cè)樣品原子之間的作用力，從而達(dá)到檢測(cè)的目的，具有原子級(jí)的分辨率。
納米位移臺(tái)在AFM原子力顯微鏡中的作用介紹
納米科技在現(xiàn)代社會(huì)發(fā)展中起著越來(lái)越重要的作用，納米科技的發(fā)展離不開(kāi)高分辨表面分析工具的發(fā)展，原子力顯微鏡憑借其超高分辨率成為研究納米科技的有···
你知道AFM原子力顯微鏡探測(cè)到的原子力的由哪幾部分組成嗎？
AFM原子力顯微鏡是一種具有原子級(jí)別高分辨率的新型表面分析儀器，它不但能像掃描隧道顯微鏡那樣觀察導(dǎo)體和半導(dǎo)體材料的表面現(xiàn)象