原子力顯微鏡電磁特性主要包括電流／皮安級電流、掃描擴(kuò)展電阻顯微鏡（ssrm）、開爾文顯微鏡（KFM）、靜電力顯微鏡（EFM）、壓電響應(yīng)力顯微鏡（PRM）、···
AFM原子力顯微鏡在高分子薄膜領(lǐng)域中新應(yīng)用技術(shù)的介紹
在定位觀察薄膜時(shí),可采用碳納米管定位法以及針尖打孔定位法對所觀察的樣品進(jìn)行定位,該方法可實(shí)現(xiàn)對樣品進(jìn)行離位處理之后再次精確定位。在測量高分子薄···
AFM原子力顯微鏡測試樣品的制樣要求介紹
原子力顯微鏡是一種高分辨率表面形貌和物理性質(zhì)測量技術(shù)，能夠直接觀測納米級別的表面形態(tài)、粗糙度、力學(xué)性質(zhì)等。在進(jìn)行AFM原子力顯微鏡測試前，需要對···